




x射線發(fā)生裝置-地質(zhì),礦產(chǎn)
在研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過程中,地理學(xué)家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如:小點(diǎn)激發(fā),分布分析和無標(biāo)定量分析,日漸成為地質(zhì)研究及礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。X射線衍射儀(XRD)可定量測量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認(rèn)為是晶體相定量分析適合的方法。技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)為這些判定提供了一系列解決方案。

x射線發(fā)生裝置工作原理
給陰極加上一定的電流被加熱時,x射線發(fā)生裝置報價,便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬伏特高壓電場的作用下,這些電子被加速并轟擊陽極(又被稱為靶)。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點(diǎn)呈細(xì)長的矩形狀(稱線焦點(diǎn)或線焦斑),x射線發(fā)生裝置哪家好,從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長邊的兩個出射窗口觀察,焦斑呈線狀的稱為線光源;從另外兩個出射窗口觀察,x射線發(fā)生裝置,焦斑如點(diǎn)狀稱為點(diǎn)光源。在衍射儀每次安裝管子時,必須辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點(diǎn)方向。此外,還要求測角儀相對于靶面平面要有適當(dāng)?shù)膬A斜角。

x射線發(fā)生裝置應(yīng)用范圍:
工業(yè)用X射線衍射儀在當(dāng)今科技領(lǐng)域里用來分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說,X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析,大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析;晶體物質(zhì)晶粒大小的計算;晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。


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