光致發(fā)光熒光量子效率測試系統(tǒng)是一種用于測量材料在受到光子激發(fā)后發(fā)出熒光的效率的裝置。其基本原理是：當(dāng)物質(zhì)吸收一定波長的入射光照射時(shí)，電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)；這些處于高能級的電子不穩(wěn)定，會迅速回到低能級或者直接返回至原來的穩(wěn)定狀態(tài)（即基態(tài)），在這個過程中釋放出能量并產(chǎn)生自發(fā)輻射的熒光現(xiàn)象。該系統(tǒng)通過精確測量被樣品吸收的入射頻率與發(fā)射出的頻率之間的關(guān)系來計(jì)算材料的熒光產(chǎn)額——也就是所謂的“量子效率”。這一數(shù)值反映了材料將光能轉(zhuǎn)化為有用發(fā)光的本領(lǐng)大小及能力高低程度等信息, 對于研究物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性質(zhì)具有重要意義 。通常包括光源、單色儀(濾光片)、積分球和光電探測器等主要部件來完成上述的測量工作 . 通過這樣的測試和分析 , 人們可以了解不同材料和器件在不同條件下的性能表現(xiàn)及其優(yōu)化途徑等關(guān)鍵信息 . 總而言之 ， 光致電性測試技術(shù)為現(xiàn)代光學(xué)領(lǐng)域提供了強(qiáng)大的分析工具之一 。