膜厚測(cè)量?jī)x的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通量與磁阻的變化關(guān)系來(lái)測(cè)定覆層厚度。當(dāng)測(cè)量?jī)x的測(cè)頭接近被測(cè)物體時(shí)，測(cè)頭會(huì)發(fā)出磁場(chǎng)，磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層并流入鐵磁基體。在此過(guò)程中，磁通量的大小會(huì)發(fā)生變化，而這種變化與被測(cè)覆層的厚度密切相關(guān)。具體來(lái)說(shuō)，覆層越厚，磁通量越小，因?yàn)檩^厚的覆層會(huì)對(duì)磁場(chǎng)產(chǎn)生更大的阻礙作用，導(dǎo)致磁通量減小。此外，測(cè)量?jī)x還可以通過(guò)測(cè)定與磁通量對(duì)應(yīng)的磁阻大小來(lái)表示覆層厚度。磁阻是描述磁場(chǎng)在介質(zhì)中傳播時(shí)所受阻礙程度的物理量，覆層越厚，磁阻越大。因此，通過(guò)測(cè)量磁阻的大小，也可以間接地得到覆層的厚度信息。這種磁感應(yīng)測(cè)量原理使得膜厚測(cè)量?jī)x能夠精確地測(cè)定導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。同時(shí)，由于該方法不依賴(lài)于光學(xué)干涉或機(jī)械接觸，因此適用于各種不同類(lèi)型的材料和薄膜，具有廣泛的應(yīng)用前景。在實(shí)際應(yīng)用中，膜厚測(cè)量?jī)x的磁感應(yīng)測(cè)量原理為工業(yè)生產(chǎn)和科研實(shí)驗(yàn)提供了方便快捷的測(cè)量手段，有助于確保產(chǎn)品質(zhì)量和推動(dòng)科技進(jìn)步。