膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通量的變化來測(cè)定涂膜或覆層的厚度。其核心原理在于利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通量大小來測(cè)定覆層厚度。具體來說，當(dāng)測(cè)頭靠近待測(cè)物體表面時(shí)，它會(huì)產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng)。這個(gè)磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)過非鐵磁覆層，進(jìn)而流入鐵磁基體。在這個(gè)過程中，磁通量的大小會(huì)受到覆層厚度的影響。覆層越厚，磁通量越小，因?yàn)楦矊訒?huì)對(duì)磁場(chǎng)產(chǎn)生一定的阻礙作用。同時(shí)，磁阻的大小也與覆層厚度相關(guān)，覆層越厚，磁阻越大。膜厚儀通過測(cè)量磁通量或磁阻的大小，可以準(zhǔn)確地確定覆層的厚度。這種測(cè)量方法不僅適用于鐵磁基體上的非鐵磁覆層，還可以應(yīng)用于其他導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度的測(cè)量。膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)量準(zhǔn)確、快速等優(yōu)點(diǎn)，因此在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。無論是用于檢測(cè)金屬表面的涂層厚度，還是用于監(jiān)測(cè)薄膜材料的厚度變化，膜厚儀都能發(fā)揮重要作用，幫助人們實(shí)現(xiàn)對(duì)材料性能的精確控制和評(píng)估。