聚合物膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉原理。當(dāng)一束光照射到聚合物薄膜表面時(shí)，部分光會(huì)被薄膜表面反射，而另一部分光則會(huì)穿透薄膜并在其內(nèi)部或底層界面上再次反射。這兩束反射光在相遇時(shí)會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象，形成特定.. 全文

反射率儀自帶顯示電腦，可測(cè)量反射率光譜，操作簡單快捷，測(cè)量光譜數(shù)據(jù)快速顯示在電腦。 全文

品牌效應(yīng)和設(shè)備性能方面選擇光譜功率計(jì)光功率計(jì)廠家。品牌效應(yīng)大的廠家也能體現(xiàn)企業(yè)實(shí)力和產(chǎn)品質(zhì)量。 全文

一個(gè)好的葉片光譜測(cè)試儀廠家，需要有責(zé)任心，對(duì)產(chǎn)品的品質(zhì)要求嚴(yán)格，一絲不茍，產(chǎn)品的品質(zhì)是對(duì)客戶很大的尊重與負(fù)責(zé)。 全文