光學(xué)干涉厚度測(cè)試儀是一種利用光學(xué)干涉原理來(lái)精確測(cè)量材料厚度的先進(jìn)設(shè)備。這種測(cè)試儀通過(guò)發(fā)射一束特定波長(zhǎng)的光至待測(cè)材料表面，并檢測(cè)反射光的干涉條紋，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)材料厚度的非接觸式、無(wú)損測(cè)量。在材料測(cè)量領(lǐng)域，.. 全文

選擇價(jià)格合理的光譜功率計(jì)光功率計(jì)廠家還取決于設(shè)備的運(yùn)營(yíng)成本，還可以從產(chǎn)品安全性這方面的設(shè)計(jì)進(jìn)行考慮。 全文

反射率檢測(cè)儀的特點(diǎn)是采用鹵素?zé)艄庠椿蜴u燈光源，光源輸出均勻穩(wěn)定。支持XY色度圖、Lab測(cè)定，可以依據(jù)分光測(cè)色法，通過(guò)分光反射率測(cè)定物體顏色。 全文

選擇積分球光功率計(jì)廠家合作建議可以就近選擇廠家。還方便去工廠進(jìn)行實(shí)地考察，觀察產(chǎn)品是否符合標(biāo)準(zhǔn)。 全文