ITO膜膜厚測(cè)量?jī)x支持的厚度范圍?
光譜干涉厚度測(cè)試儀適用于測(cè)量的材料類(lèi)型
光譜干涉厚度測(cè)試儀是一種先進(jìn)的非接觸式測(cè)量技術(shù),它基于光的干涉現(xiàn)象進(jìn)行精確測(cè)量,具有高精度、高穩(wěn)定性和高重復(fù)性的優(yōu)點(diǎn)。這種測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,尤其適合用于測(cè)量多種材料類(lèi)型的膜層厚度。具體而言,光.. 全文
AR抗反射層厚度測(cè)量?jī)x能記錄測(cè)量數(shù)據(jù)以供后續(xù)分析嗎
<div style="text-align:center;margin:5px 0;"><img src="https://upimg300.dns4.cn/pic1/346595/p13/2024.. 全文
景頤光學(xué)儀器供應(yīng)商:反光杯吸收率,檢測(cè)儀器助你提升
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